1. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
المؤلف: \ Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
المکتبة: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary -- Design. ,Random access memory.,نیمه هادی‌های اکسید فلزی مکمل -- طراحی ,حافظه دسترسی تصادفی
رده :
E-Book
,
2. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test
المؤلف: / Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)
موضوع:
3. CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies
المؤلف: / Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementar--Design,Random access memory,Nanoelectronics
رده :
E-BOOK
4. Defect-Oriented Testing For Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
المؤلف: / by Manoj Sachdev, Jose Pineda de Gyvez
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع: CMOS VLSI Circuits
رده :
TK7874
.
D47S2
2010
5. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
المؤلف: by Manoj Sachdev.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Computer engineering.,Engineering design.,Engineering.
6. Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits, 2nd Edition
المؤلف: / Manoj Sachdev, Jose Pineda de Gyvez
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)
موضوع:
7. Defect oriented testing for nano metric CMOS vlsi circuits
المؤلف: Sachdev, Manoj.
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: ، Metal oxide semiconductors, Complementary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complementary- Defects
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
S23
2007
8. #2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing
المؤلف: #sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee , edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
المکتبة: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (أصبهان)
موضوع: Semiconductors- Defects- Congresses
رده :
#
QC
،#.
D4
,
I54
،#
2000
9. 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing, April 30, 2000, Montreal, Canada
المؤلف: sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee; edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Testing -- Congresses ، Metal oxide semiconductors, Complementary,Congresses ، Iddq testing,Defects -- Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
2000
10. THERMAL AND POWER MANAGEMENT OF INTEGRATED CIRCULTS
المؤلف: /Arman vassighi and Manoj sachdev
المکتبة: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)
موضوع:
11. Thermal and power management of integrated circuits
المؤلف: / Arman Vassighi and Manoj Sachdev
المکتبة: المكتبة المركزية ومركز الأرشيف (طهران)
موضوع: Integrated circuits,INTEGRATED CIRCUITS,THERMAL ENERGY,MANAGEMENT,CMOS,-- Management
رده :
621
.
3815
V339T
2006
